22.11.2017 - Cluster-Schulung

Messen, Prüfen und Charakterisieren von Leistungshalbleiter-Bauelementen

Das Cluster Leistungselektronik des ECPE bietet im November eine Cluster-Schulung zum Thema "Messen, Prüfen und Charakterisieren von Leistungshalbleiter-Bauelementen" mit der Vertiefung "Dynamische und applikationsnahe Messungen" an.

22. bis 24. November 2017

Tag 1 "Theorie": Mittwoch, 22.11.2017

Tag 2 "Praxiskurs": 23.11. oder 24.11.2017

 

Programm und Zeitplan finden Sie im Flyer.

 

Eine Anmeldung ist erforderlich. Der Anmeldeschluss ist Donnerstag, der 16.11.2017.
Das Anmeldeformular finden Sie auf der Webseite www.clusterLE.de